CEI/IEC 60749-30 dispositivos semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pate 30, Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad
| Título | CEI/IEC 60749-30 ;dispositivos semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pate 30, Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | AENOR |
| Fecha de publicación | [2005] |
| Descripción física o extensión | 15 p. |
| Dimensiones | 30 cm |
| Depósito Legal | M 47015-2005 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] : |
| Nota |
"Norma internacional" "Versión en español" |
| Nota | En hojas sueltas |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | DL/1444443 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
| Signatura | 9/269575 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
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Tipo
Libro
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