UNE-EN 60749-33 dispositivos semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 33, Resistencia a la humedad acelerada : autoclave no polarizada
Título | UNE-EN 60749-33 ;dispositivos semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 33, Resistencia a la humedad acelerada : autoclave no polarizada ;elaborada por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2005] |
Descripción física o extensión | 8 p. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 12572-2005 |
Participante | |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma española" "Marzo 2005" Versión oficial de EN 60749-33, de abril de 2004 |
Nota | En hojas sueltas |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/264676 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1394968 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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