UNE-EN 60749-29 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29, ensayo de enclavamiento
| Título | UNE-EN 60749-29 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29, ensayo de enclavamiento ;elaborado por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | AENOR |
| Fecha de publicación | [2004] |
| Descripción física o extensión | 21 p. |
| Otras características físicas | il. |
| Dimensiones | 30 cm |
| Depósito Legal | M 32227-2004 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] : |
| Nota |
"Julio 2004" "Norma española" Versión oficial de EN 60749-29, de diciembre de 2003 ysu corrigendum, de marzo de 2004 |
| Nota | En hojas sueltas |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | 9/259087 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
| Signatura | DL/1340383 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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