CEI/IEC 60749-14 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14, Robustez de los terminales (integridad de los conectores)
Título | CEI/IEC 60749-14 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14, Robustez de los terminales (integridad de los conectores) ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2004] |
Descripción física o extensión | 14 p. |
Otras características físicas | il. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 28402-2004 |
Participante | |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma internacional" "Versión en español" |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/257295 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1327878 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
Más información de ejemplares +
Tipo
Libro
Acceder a esta obra
Este recurso puede obtenerse en la propia Biblioteca Nacional de España, solicitando una copia, o por préstamo interbibliotecario (solo bibliotecas), utilizando las siguientes opciones: