CEI IEC 60749-1 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1, Generalidades
Título | CEI IEC 60749-1 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1, Generalidades ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2004] |
Descripción física o extensión | 9 p. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 27319-2004 |
Participante | |
Edición | 1ª ed. |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma internacional" "Versión en español" |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/257245 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1327375 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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