UNE-EN 60749-31 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31, Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente)
| Título | UNE-EN 60749-31 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31, Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente) ;elaborada por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | AENOR |
| Fecha de publicación | [2004] |
| Descripción física o extensión | 6 p. |
| Dimensiones | 30 cm |
| Depósito Legal | M 13880-2004 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] : |
| Nota |
"Norma española" Versión oficial de EN 60749-31, de junio de 2003 "Marzo 2004" |
| Nota | En hojas sueltas |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | DL/1300232 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
| Signatura | 9/254294 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
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Tipo
Libro
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