UNE-EN 60749-11 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11, Variaciones rápidas de temperatura : método de los dos baños
| Título | UNE-EN 60749-11 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11, Variaciones rápidas de temperatura : método de los dos baños ;elaborado por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | AENOR |
| Fecha de publicación | [2003] |
| Descripción física o extensión | 9 p. |
| Dimensiones | 30 cm |
| Depósito Legal | M 20871-2003 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] : |
| Nota |
"Norma española" Anulará y sustituirá a parcialmente a: UNE-EN 60749, de noviembre de 2000 y syus modificaciones A1:2001 y A2:2002 antes de 2005-07-01 "Mayo 2003" Versión española de EN 60749-11, de 11 de agosto de 2002 |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | 9/250005 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
| Signatura | DL/1269795 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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