CEI/IEC 60749-7 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7, Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales
| Título | CEI/IEC 60749-7 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7, Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | AENOR |
| Fecha de publicación | [2003] |
| Descripción física o extensión | 8 p. |
| Dimensiones | 30 cm |
| Depósito Legal | M 28785-2003 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] : |
| Nota |
"Norma internacional" "Versión en español" |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | 9/247699 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
| Signatura | DL/1251360 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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