UNE-EN 60749-2 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2, Baja presión atmosférica
Título | UNE-EN 60749-2 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2, Baja presión atmosférica ;elaborada por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2003] |
Descripción física o extensión | 8 p. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 20148-2003 |
Participante | |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma española" "Mayo 2003" Anulará y sustituirá parcialmente a: UNE-EN 60749, de noviembre de 2000 y sus modificaciones A1:2001 y A2:2002 Versión oficial de EN 60749-2, de agosto de 2002 |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/247336 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1245799 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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