UNE-EN 60749-7 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7, Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales
Título | UNE-EN 60749-7 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7, Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales ;elaborada por el comité técnico AEN/CTN 209 ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2003] |
Descripción física o extensión | 9 p. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 20872-2003 |
Participante | |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma española" "Mayo 2003" Versión oficial de EN 60749-7, de agosto de 2002 Sustituye a: UNE-EN 60749, de noviembre de 200 |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/244106 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1230109 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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