Título UNE-EN 60749-6 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6, Almacenamiento a alta temperatura ;elaborada por el comité técnico AEN/CTN 209 ;
Lugar de publicación Madrid
Editorial AENOR
Fecha de publicación [2003]
Descripción física o extensión 7 p.
Dimensiones 30 cm
Depósito Legal M 20870-2003
Participante

Asociación Española de Normalización y Certificación

Tipo de material [Texto impreso] :
Nota

"Mayo 2003"

Sustituye a: UNE-EN 60749, de noviembre de 2000

"Norma española"

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Signatura 9/244107
Localización Salón General
Sede Sede de Recoletos
Signatura DL/1230107
Localización Ejemplar de conservación
Sede Sede de Alcalá

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