A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films
| Título | A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films ;Frank L. Mc Crackin and James P. Colson ; |
| Lugar de publicación | Washington |
| Editorial | [s.n.] |
| Fecha de publicación | 1964 |
| Descripción física o extensión | 11, 42 p. |
| Dimensiones | 26 cm |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] |
| Nota | Precede al tít.: National Bureau of Standards |
| Serie | NBS Technical Note |
| Número en la serie | v. 242 |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | VC/8694/25 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
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Tipo
Libro
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