Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida

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Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida Norma española: UNE 20-607-80

Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida Norma española: UNE 20-607-80 (Ver registro completo)

Libro
Título Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida ;
Lugar de publicación Madrid
Editorial Instituto Nacional de Racionalización y Normalización: IRANOR
Fecha de publicación 1980

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