Calculations for comparing two-point and four-point probe resistivity measurements on rectangular bar-shaped semiconductor samples
| Título | Calculations for comparing two-point and four-point probe resistivity measurements on rectangular bar-shaped semiconductor samples ; |
| Lugar de publicación | Washington |
| Editorial | [U. S. Department of Commerce. National Bureau of Standards] |
| Fecha de publicación | 1964 |
| Descripción física o extensión | 25 p. |
| Otras características físicas | il. |
| Dimensiones | 27 cm |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] |
| Serie | NBS Technical Note |
| Número en la serie | 241 |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | VC/8688/6 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
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