Caracterización eléctrica de películas delgadas de SiO2 mediante espectroscopia de electrones Auger
Título | Caracterización eléctrica de películas delgadas de SiO2 mediante espectroscopia de electrones Auger ;Antonio Jesús de Castro González ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | Editorial de la Universidad Complutense |
Fecha de publicación | 1993 |
Descripción física o extensión | 149 p. |
Dimensiones | 22 cm |
Depósito Legal | M 12286-1993 |
Tipo de material | [Texto impreso] |
Nota | Bibliografía |
Serie | Colección Tesis doctorales |
Número en la serie |
n. 91/93 n. 93/91 |
Serie o colección | Colección Tesis doctorales (Universidad Complutense de Madrid) |
Nota | Tesis--Universidad Complutense de Madrid |
Ejemplares disponibles 
Signatura | 9/117996 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/608958 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
Más información de ejemplares
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Tipo 
Libro
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