El·lipsometria ràpida i espectroscòpia aplicada a l'estudi del creixement de capes fines de a-Si:H en un plasma RF
Título | El·lipsometria ràpida i espectroscòpia aplicada a l'estudi del creixement de capes fines de a-Si:H en un plasma RF ;Adolf Canillas i Biosca ; |
Lugar de publicación | Barcelona |
Editorial | Publicacions Universitat de Barcelona |
Fecha de publicación | 1992 |
Descripción física o extensión | 1 microficha (308 fotogramas) |
Otras características físicas | negativo, gráf. |
Dimensiones | 11x15 cm |
Material de acompañamiento | 1 v. (9 p.) |
Depósito Legal | B 5338-1992 |
Tipo de material | [Microforma] |
ISBN | 84-7875-524-1 |
Nota |
Reducción alta Bibliografía Precede al tít.: Universitat de Barclona, Departament de Física Aplicada i Electrònica, Laboratori de Física de Capes Fines |
Número en la serie | n. 1242 |
Nota | Tesis--Universidad de Barcelona |
Ejemplares disponibles 
Signatura | XL/2625 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
Signatura | AHX/1050 |
Localización | Salón General-Petición anticipada |
Sede | Sede de Alcalá |
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