Título El·lipsometria ràpida i espectroscòpia aplicada a l'estudi del creixement de capes fines de a-Si:H en un plasma RF ;Adolf Canillas i Biosca ;
Lugar de publicación Barcelona
Editorial Publicacions Universitat de Barcelona
Fecha de publicación 1992
Descripción física o extensión 1 microficha (308 fotogramas)
Otras características físicas negativo, gráf.
Dimensiones 11x15 cm
Material de acompañamiento 1 v. (9 p.)
Depósito Legal B 5338-1992
Tipo de material [Microforma]
ISBN 84-7875-524-1
Nota

Reducción alta

Bibliografía

Precede al tít.: Universitat de Barclona, Departament de Física Aplicada i Electrònica, Laboratori de Física de Capes Fines

Número en la serie n. 1242
Nota Tesis--Universidad de Barcelona

Ejemplares disponibles

Signatura XL/2625
Localización Ejemplar de conservación
Sede Sede de Alcalá
Signatura AHX/1050
Localización Salón General-Petición anticipada
Sede Sede de Alcalá

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