CEI IEC 60749-29 dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29, Ensayo de enclavamiento
Título | CEI IEC 60749-29 ;dispositivos de semiconductores : métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29, Ensayo de enclavamiento ; |
Lugar de publicación | Madrid |
Editorial | AENOR |
Fecha de publicación | [2004] |
Descripción física o extensión | 21 p. |
Otras características físicas | il. |
Dimensiones | 30 cm |
Depósito Legal | M 34976-2004 |
Participante | |
Tipo de material | [Texto impreso] : |
Nota |
"Norma internacional" "Versión en español" |
Nota | En hojas sueltas |
Ejemplares disponibles
Signatura | 9/257876 |
Localización | Salón General |
Sede | Sede de Recoletos |
Signatura | DL/1331556 |
Localización | Ejemplar de conservación |
Sede | Sede de Alcalá |
Más información de ejemplares +
Tipo
Libro
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