Caracterización eléctrica de películas delgadas de SiO2 mediante espectroscopia de electrones Auger
| Título | Caracterización eléctrica de películas delgadas de SiO2 mediante espectroscopia de electrones Auger ;Antonio Jesús de Castro González ; |
| Lugar de publicación | Madrid |
| Editorial | Editorial de la Universidad Complutense |
| Fecha de publicación | 1993 |
| Descripción física o extensión | 149 p. |
| Dimensiones | 22 cm |
| Depósito Legal | M 12286-1993 |
| Tipo de material | [Texto impreso] |
| Nota | Bibliografía |
| Serie | Colección Tesis doctorales |
| Número en la serie |
n. 91/93 n. 93/91 |
| Serie o colección | Colección Tesis doctorales (Universidad Complutense de Madrid) |
| Nota | Tesis--Universidad Complutense de Madrid |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | 9/117996 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
| Signatura | DL/608958 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
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Tipo
Libro
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