Estudio de la captura térmica por defectos en Si Y GaAs
| Título | Estudio de la captura térmica por defectos en Si Y GaAs ;Alberto J. Palma López, Juan Antonio Jiménez Tejada, Ignacio Melchor Ferrer ; |
| Lugar de publicación | Granada |
| Editorial | Departamento de Electrónica y Tecnología de Computadores, Universidad |
| Fecha de publicación | 1995 |
| Descripción física o extensión | V, 272 p. |
| Otras características físicas | gráf. |
| Dimensiones | 24 cm |
| Depósito Legal | GR 590-1995 |
| Participante | |
| Tipo de material | [Texto impreso] |
| ISBN | 84-7951-013-7 |
| Nota | Bibliografía: p. 263-272 |
| Serie | Monografías del Departamento de Electrónica |
| Número en la serie | n. 36 |
| Serie o colección | Monografías del Departamento de Electrónica (Universidad de Granada. Departamento de Electrónica y Tecnología de Computadores) |
Ejemplares disponibles 
| Signatura | DL/758884 |
| Localización | Ejemplar de conservación |
| Sede | Sede de Alcalá |
| Signatura | AHM/326813 |
| Localización | Salón General-Petición anticipada |
| Sede | Sede de Alcalá |
| Signatura | 9/163700 |
| Localización | Salón General |
| Sede | Sede de Recoletos |
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Tipo
Libro
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